Journal / Methodik · Hintergrund

Vom Entwurf zum physischen Nachweis

Bitgenaue Simulation, verdrahtetes Layout und Untersuchung eines gefertigten Bausteins beantworten unterschiedliche Fragen.

Reinraum-Person mit irisierendem Wafer

Zuerst die Funktion

Unsere Funktionsprüfung vergleicht dieselben Operationen mit einer unabhängigen Referenz. Eingaben, Rundung, Zustände und Ausgaben sind festgelegt. Damit können wir einen Fehler im Rechenpfad erkennen, bevor ein Layout entsteht.

Dann die physische Vorhersage

Die Platzierung und Verdrahtung am Computer ergänzen reale geometrische Randbedingungen und extrahierte Leitungsmodelle. Für den aktiven Kontext sind außerdem verzögerte Netzlistensimulationen und Aktivitätsauswertungen archiviert. Diese Schritte verbinden die logische Funktion mit einer konkreteren lokalen Zeit- und Energiebilanz.

Schematische Waferbelichtung

Der nächste Übergang

Die Fertigung und Untersuchung eines realen Musters wäre eine weitere Nachweisstufe. Unser heutiges Ergebnis ist bereits ein überprüfter Architekturvergleich am Computer. Es enthält noch keine Messung an selbst gefertigtem Silizium. Für jede weitere Stufe bleiben Vergleichsbasis, Lastfall und Systemgrenze gleich wichtig.